公开课计划下载 | 报名回执下载 | 在线报名 | 联系我们
IATF16949内审员培训 APQP培训 SPC培训 FMEA培训 PPAP培训 MSA培训
QC手法培训 DOE培训 VDA6.3培训 六西格玛培训 IATF16949五大工具培训
内审员培训 TPM培训 5S培训 谢宁DOE培训 8D方法培训 五大工具培训
培训公开课
培训课程

生产件批准程序 (PPAP)

快速换模(SMED)

全面生产维护(TPM)

质量功能展开(QFD)

设计失效模式与后果分析(DFMEA)

项目管理(PM)

供应链质量管理

新老QC七大手法

有效防错指南(CQI-18)

产品质量先期策划 (APQP)

IATF 16949内审员培训

测量系统分析 (MSA)

热处理系统评估(CQI-9)

潜在失效模式和后果分析 (FMEA)

五大工具培训

实验设计培训 (DOE)

OHSAS18001内审员培训

有效解决问题 (8D)

精益生产培训

ISO14001内审员培训

谢宁DOE培训

VDA6.3过程审核员

统计过程控制 (SPC)

福特Q1培训

TWI-JR工作关系

TWI-JM工作改善

TWI-JI工作指导

生产物料与计划控制(PMC)

新产品策划(NPD)

汽车行业软件过程改进和能力测定(ASPICE)

功能安全管理体系标准理解(ISO26262)

DFSS六西格玛设计培训

DFX-面向制造和装配的产品设计(DFM/A/C)

准时化生产(JIT)

六西格玛设计(DFSS)

工业工程(IE)

制造质量供应(BIQS)

汽车行业产品安全代表(PSB)

VDA新零件成熟度保障(MLA)

铸造系统评估(CQI-27)

模塑系统评估(CQI-23)

锡焊系统评估(CQI-17)

焊接系统评估培训(CQI-15)

涂装系统评估(CQI-12)

电镀系统评估(CQI-11)

TWI-JS工作安全

美国/欧洲几何尺寸和公差(GD&T)

    首页 -> 学习资料 -> spc手册培训

spc手册培训

【课程受益】
1、对过程做出可靠的评估;
2、判断过程是否失控和过程是否有能力;
3、为过程提供一个早期报警系统;
4、减少对常规检验的依赖性。

【参加人员】
体系负责人、工程技术人员、质量管理人员、现场主要生产和检验人员。

【课程大纲】
统计过程控制SPC
一、SPC概述
1、先进的工具和方法
2、什么是SPC
3、SPC在生产中运用的目的
4、为什么控制图能预防不合格品产生
5、SPC与检验的区别
6、SPC兴起的背景

二、基本统计概念
1、样本
2、均值
3、变差
4、极差
5、标准差(总体、样本)
6、常态分布
7、受控状态
8、普通原因和特殊原因
9、过程能力
10、过度调整

三、控制图
1、概述
2、控制图的构成
3、控制图的基本原理
4、控制图的要素
5、控制图分类
6、数据的类型
7、控制图运用的时机
8、制作控制图的注意事项
9、控制图绘制流程

四、Xbar----R图应用
1、选择需控制的产品质量特征值
2、确定抽样方案
3、确定抽样方案
4、确定中心线和控制限
5、绘制X(bar) -R控制界限
6、描点
7、何时应该重新计算控制界限
8、受控分析
9、过程能力计算
10、Cp,Cpk与Pp,Ppk的区别

五、其他常用控制图介绍
1、計量值控制图
--平均值标准差控制图
--中位数与全距控制图
--单值与移动全距控制图
2、计数值控制图
--不良率控制图
--不良数控制图
--缺点数控制图
--单位缺点数控制图

六、非常规控制图突发型
1、预控制图
2、停止灯控制图

五、练习

课程大纲:

日程

题目

培训内容

开始

结束

培训时长

Day 1
第1天

第一章
基本统计概念

总体和样本

8:30

10:30

2:00

数据分析方法、直方图

正态分布及性质

常用统计量:均值、中位数、极差、标准差、移动极差

第二章
持续改进和统计过程控制

预防和探测

9:30

12:00

2:30

过程控制系统

变差的普通原因和特殊原因

局部措施和对系统采取措施(过度调整和戴明漏斗试验)

Lunch Break(午餐)

 

12:00

13:00

1:00

第三章
控制图原理

3σ原理、中心极限定理和两种错误

13:00

14:30

1:30

统计过程的控制概述

变差的普通及特殊原因、局部措施和对系统采取措施

减少特殊原因持续改进过程表现

过程控制和过程能力

14:30

16:30

2:00

Day 2
第2天

第四章

控制图及过程改善

过程改进循环和过程控制

8:30

10:30

2:00

控制图:过程控制和改进的工具

控制图的有效使用和益处

第五章
控制图运用步骤

控制图运用步骤

10:30

12:00

1:30

定义过程

确定作图的特性

选择控制图

测量系统分析

决定抽样方式

Lunch Break(午餐)

 

12:00

13:00

1:00

第六章
控制图制作准备

统计过程的控制实施流程

13:00

14:30

1:30

使用控制图的准备

过程变差分析及变差模型建立

SPC与预测性维护的关系

第四章 计量型控制图

平均值极差控制图

14:30

16:30

2:00

Day 3
第3天

第七章
计量型控制图

平均值极差控制图(续)

8:30

9:30

1:00

平均值标准差控制图

中位数极差控制图

单值移动极差控制图

第二版
新增的复杂SPC控制图

预控图

10:30

12:00

1:30

标准化控制图

计数型标准化控制图

检测小位移的控制图

CUSUM控制图

EWMA控制图

Lunch Break(午餐)

 

12:00

13:00

1:00

第八章
认识计量型数据的过程能力和过程性能

过程术语的定义

13:00

14:30

1:30

条件描述

建议使用的过程测量

过程能力CPK实例

双向公差的能力分析

单向公差的能力分析

过程性能指数PPK,设备能力指数CMK比较

第六章
计数型控制图

P控制图

14:30

16:15

1:45

Np控制图

C图

U图

课程总结

 

16:15

16:30

0:15

 

注: 案例和练习时间以及上下午的课间休息时间(10分钟)包括在内

总共培训时长:

16:00

报名回执.doc

相关文章:TS16949培训 TS949内审员培训 FMEA培训 SPC培训 MSA培训 五大工具培训 APQP培训  d2查表.xls  CPK,PPK 课堂练习.xls

SPC统计控制程序案例

1目的

    利用适当的统计技术和方法,分析、验证过程能力和产品特性,以便掌握问题,并提出纠正预防措施及改进措施,降低产品不良率,确保产品质量得到有效控制。

2范围

本统计技术应用程序适用于本公司内部与质量体系有关的各项活动。

3职责

质管部及各单位在适当阶段对数据进行收集及统计分析。

4定义

     无。

5工作程序

5.1 根据产品质量特性和过程能力的需要,利用统计技术建立各检验过程的统计技术和方法,对各过程的统计数据加于分析,以稳定过程能力及降低产品不良率。

5.2 每月结束后,质管部利用“柏拉图统计分析”或“综合统计分析表”对产品质量状况作统计分析,对产品质量出现异常的应进行原因分析,并提出纠正预防措施及改进措施,工序质检员对纠正预防措施及改进措施的执行情况和改进效果进行追踪确认,直至该问题得到有效解决。

5.3 对新产品的开发或顾客有特殊要求及控制计划有要求的产品,在成品检验过程中,各单位应对产品质量特性和过程能力PPK/CPK及产品过程变化作X-R控制图进行统计分析、评估。(如顾客有特殊要求时,按顾客要求的统计技术、方法进行统计分析、评估),以了解产品的质量特性和过程能力在生产过程中的变化和稳定性,当产品质量特性和过程能力不能满足顾客要求或公司规定的要求时,由质管办通知相关责任部门针对异常问题进行原因分析,并提出纠正预防措施。

5.4 统计技术、方法的选用(推荐使用)

5.4.1资料的汇总、综合:检查表;

5.4.2原因分析:柏拉图;

5.4.3 随时间变动作前后比较:控制图;

5.4.4表示百分比:柏拉图、直方图;

5.4.5抽样计划:按MIL-STD-1-105E进行抽样;

5.4.6检验计划:抽检。

5.5 在产品质量先期策划过程中,项目小组应根据各过程相应的统计技术、方法或顾客要求的统计技术、方法来确定每一过程适用的统计技术、方法,并将其列入控制计划中,其具体的统计技术、方法

参照《产品质量先期策划控制程序》中的控制计划。

5.6 如合同中规定了顾客的特殊要求,生产技术办、质管办应根据顾客在合同中规定的特殊要求来确定统计技术,以使其满足合同要求。

5.7 为提高统计技术过程分析能力,质管办应根据各部门的实际工作状况,做好相关人员基础统计概念知识的培训计划,使其掌握和了解最基础的统计技术、方法。

6相关文件

6.1顾客满意度调查程序               

6.2产品先期质量策划程序          

6.3质量记录控制程序                                      

6.4控制计划编制规定

7使用表单

7.1 柏拉图统计分析                   

7.2 X-R控制图         

控制图的常数和公式表

     X-R图   
      X-s图   
 
 均值X图
            全距R图           均值X图
             标准差S图          
子组容量 计算控制限用的系数 标准差估计值的除数 计算控制限用的系数 计算控制限用的系数 标准差估计值的除数 计算控制限用的系数


n A2 d2 D3 D4 A3 c4 B3 B4
2 1.880  1.128  - 3.267  2.659  0.7979  - 3.276 
3 1.023  1.693  - 2.571  1.954  0.8862  - 2.568 
4 0.729  2.059  - 2.282  1.628  0.9213  - 2.266 
5 0.577  2.326  - 2.114  1.427  0.9400  - 2.089 
6 0.483  2.543  - 2.004  1.287  0.9515  0.030  1.970 
7 0.419  2.704  0.076  1.924  1.182  0.9594  0.118  1.882 
8 0.373  2.847  0.136  1.864  1.099  0.9650  0.185  1.815 
9 0.337  2.970  0.184  1.816  1.032  0.9693  0.239  1.761 
10 0.308  3.078  0.223  1.777  0.975  0.9727  0.284  1.716 
11 0.285  3.173  0.256  1.744  0.927  0.9754  0.321  1.679 
12 0.266  3.258  0.283  1.717  0.886  0.9776  0.354  1.640 
13 0.249  3.336  0.307  1.693  0.850  0.9794  0.382  1.618 
14 0.235  3.407  0.328  1.672  0.817  0.9810  0.406  1.594 
15 0.223  3.472  0.347  1.653  0.789  0.9823  0.428  1.572 
16 0.212  3.532  0.363  1.637  0.763  0.9835  0.448  1.552 
17 0.203  3.588  0.378  1.622  0.739  0.9845  0.446  1.534 
18 0.194  3.640  0.391  1.608  0.718  0.9854  0.482  1.518 
19 0.187  3.689  0.403  1.597  0.698  0.9862  0.497  1.503 
20 0.180  3.735  0.415  1.585  0.680  0.9869  0.510  1.490 
21 0.173  3.778  0.425  1.575  0.663  0.9876  0.523  1.477 
22 0.167  3.819  0.434  1.566  0.647  0.9882  0.534  1.466 
23 0.162  3.858  0.443  1.557  0.633  0.9887  0.545  1.455 
24 0.157  3.895  0.451  1.548  0.619  0.9892  0.555  1.445 
25 0.153  3.931  0.459  1.541  0.606  0.9896  0.565  1.435 
        
UCLX,LCLX  =
 X±A2R
  UCLX,LCLX  =
 X±A2R
  
UCLR = D4R
   UCLS = B4s
   
LCLR = D3R
   LCLS = B3s
   
δ=R/D2
   δ= s/c4
   
 中位数图 單值圖
 中位数X图
            全距R图           单值X图            全距R图          
子组容量 计算控制限用的系数 标准差估计值的除数 计算控制限用的系数 计算控制限用的系数 标准差估计值的除数 计算控制限用的系数


n A2
 d2 D3 D4 E2 d2 D3 D4
2 1.880  1.128  - 3.267  2.660  1.128  - 3.267 
3 1.187  1.693  - 2.574  1.772  1.693  - 2.574 
4 0.796  2.059  - 2.282  1.457  2.059  - 2.282 
5 0.691  2.326  - 2.114  1.290  2.326  - 2.114 
6 0.548  2.534  - 2.004  1.184  2.534  - 2.004 
7 0.508  2.704  0.076  1.924  1.109  2.704  0.076  1.924 
8 0.433  2.847  0.136  1.864  1.054  2.847  0.136  1.864 
9 0.412  2.970  0.184  1.816  1.010  2.970  0.184  1.816 
10 0.362  3.078  0.223  1.777  0.975  3.078  0.223  1.777 
  
      
UCLX,LCLX  =
 X±A2R  UCLX,LCLX  = X±E2R
  
UCLR = D4R
   UCLMR = D4R
   
LCLR = D3R
   LCLMR = D3R
   
δ=R/d2
   δ= R/d2

相关培训:ts内审员培训 ts五大工具培训 ts16949培训 fmea培训

  阅读本文的人,还阅读了:

IATF16949内审员培训 TS16949五大工具培训 APQP培训
FMEA培训 PPAP培训 MSA培训
VDA6.3培训 谢宁DOE培训 8D方法培训
SPC培训 ts五大工具培训 DOE培训
TPM培训 6sigma培训 精益生产培训

关闭
上一篇文章: MSA测定作业标准书
下一篇文章: FMEA手册培训|FMEA培训
在线报名
报名项目: * 此处要填写您报名的项目
您的姓名: * 多少人参加提交一次即可

您的电话:

* 手机座机至少填写一项
电子邮箱: * 选填 推荐填写
Q Q号码: * 选填 推荐填写
所在地址: * 选填 推荐填写
留言备注: